电子产品、元器件高加速寿命试验HALT，寿命耐久性测试
高加速老化试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。老化试验的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。
高加速老化试验是一种利用阶梯应力加诸于试品，并在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。试品通过HALT所暴露的缺陷，涉及线路设计、工艺、元部件和结构等方面。HALT的主要目的是在产品设计和试产阶段，通过试验，快速发现产品的潜在缺陷，并加以改进和验证，从而增加产品的极限值，提高其坚固性及可靠性。施加于试品的应力，包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。
在产品研制阶段，为得出产品设计裕度和极限承载能力(破坏或损伤极限)而设计的一种试验，它应用步进的方法给产品施加环境应力并检测其性能，直到产品失效为止。为提高试验效率，所施应力并非工作环境的模拟而是加速应力，通常为高变温率(至少应大于25°C/min)的温度循环和多轴随机振动，还包括有通电循环、电压偏低、频率偏差等电应力。高加速寿命试验得到的应力极限值可以作为确定高加速环境应力筛选的应力量值的依据。
高加速老化试验：以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。往往一个测试计划，需要重复进行几次，除非一次性能经受加速应力试验。其关键在于分析失效的根本原因。
高加速老化试验的主要功能如下：
1．利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善；
2. 了解产品的设计能力及失效模式；
3. 作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考；
4. 快速找出产品制造过程的瑕疵；
5. 增加产品的可靠性，减少维修成本；
6. 建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并缩短设计制造周期。
